Advantest Corporation anunció tres nuevas incorporaciones a su grupo de productos de prueba de memoria. Las nuevas ofertas están diseñadas para dirigirse a los dispositivos NAND Flash y de memoria no volátil (NVM), que se enfrentan a una presión extrema para reducir los costes de las pruebas y el coste de propiedad en la planta de pruebas. Los nuevos productos incluyen la solución de pruebas de obleas de memoria T5230; el módulo de pruebas a nivel de sistema NAND con protocolo de tercera generación STM32G para el comprobador de memoria T5851; y la opción de interfaz de clasificación de obleas de alta velocidad T5835.

El sistema de pruebas de memoria T5230 para dispositivos NAND/NVM adopta una arquitectura de matriz combinada para lograr el mejor rendimiento de coste de pruebas de su clase para las pruebas de obleas, incluyendo el quemado a nivel de oblea (WLBI) y el autotest integrado (BIST). El sistema puede realizar pruebas en oblea de 1.024 dispositivos de memoria por cabezal de pruebas en paralelo, lo que ofrece una alta productividad y permite ahorrar hasta un 86% de espacio en el suelo. En el T5230 se conectan varias celdas de prueba por controlador de sistema, lo que permite realizar pruebas independientes en oblea de cada celda de prueba.

Las celdas de prueba pueden almacenarse en un probador general de obleas múltiples minimizando el espacio de suelo de la celda de prueba, y el probador puede acoplarse con probadores en configuraciones tanto lineales como de apilado múltiple. Para pruebas funcionales a una velocidad de prueba máxima de 125MHz/250Mbps, el T5230 asegura una alta precisión de temporización, repetibilidad y capacidad de detección de fallos. El módulo T5851-STM32G está diseñado para cubrir la última generación de dispositivos NAND de protocolo, incluidos los dispositivos UFS4.0 y PCIe Gen 5 empaquetados en ball grid array (BGA) para pruebas NAND de alta velocidad a nivel de sistema a hasta 32Gbps.

Totalmente actualizable y compatible con los sistemas T5851 existentes, el nuevo módulo ofrece un rendimiento probador-por-DUT (dispositivo bajo prueba) y está cualificado para la fabricación, cualificación, fiabilidad y caracterización de grandes volúmenes. Creada como opción para el probado sistema multifunción de pruebas de memoria T5835, la nueva interfaz de alta velocidad de clasificación de obleas permite el sondeo de obleas NAND Flash/NVM a alta velocidad (hasta 5,4Gbps) con 4.096 canales completos de E/S. Los troqueles NAND en bruto que se encuentran en el interior de las unidades de estado sólido (SSD) requieren una funcionalidad de velocidad cada vez mayor, por lo que es necesario evaluar y probar el rendimiento de los troqueles a nivel de oblea, no sólo en la prueba final a nivel de paquete.

La solución ofrece una interfaz de sonda de alta velocidad con evaluación a nivel de oblea de las funcionalidades de prueba del núcleo de memoria durante la producción de ingeniería, lo que contribuye al valor global del T5835 al ofrecer una cobertura de pruebas más amplia.