NI anunció una nueva iniciativa para ofrecer soluciones analíticas de semiconductores en tiempo real en el borde utilizando su plataforma NI Global Operations (GO, anteriormente Optimal+). Este nuevo nivel de infraestructura y control abre la puerta a aplicaciones más avanzadas y personalizadas desarrolladas por los usuarios de la plataforma, NI e incluso terceros. El anuncio destaca por una nueva capa de habilitación dentro del ecosistema NI GO y la integración inicial con el proveedor líder de ATE, Teradyne.

Las crecientes demandas de calidad, rendimiento, producción y funcionalidad en las operaciones de pruebas de semiconductores han estimulado el interés por desarrollar controles de pruebas mejores y con mayor capacidad de respuesta. Para hacer frente a esto, la nueva capa de habilitación de aplicaciones en tiempo real de NI Global Operations amplía las capacidades existentes de la plataforma GO a servidores de pruebas seguros y de baja latencia para que los modelos analíticos puedan ejecutarse en línea con la ejecución de las pruebas. La nueva capa de habilitación mejora la arquitectura abierta y las robustas capacidades analíticas de NI Global Operations añadiendo soporte integrado para plataformas de piso de pruebas ATE. Sus protocolos locales de datos, seguridad y comunicación combinados con la analítica de backend NI GO crean una solución completa y de confianza para el control en tiempo real en pruebas de semiconductores.

Empezar con Teradyne significa que sus plataformas de pruebas tendrán acceso a estas nuevas capacidades. Además, la arquitectura abierta permitirá que todos y cada uno de los proveedores y plataformas ATE sean compatibles en el futuro, con más anuncios previstos en el futuro. Al trabajar directamente con los proveedores de ATE, NI puede garantizar el soporte, la colaboración y la innovación a largo plazo en torno a estas soluciones conjuntas.

Estas relaciones están diseñadas para permitir una arquitectura combinada e integrada que utilice mejor los servidores ATE para permitir nuevas posibilidades de optimización de pruebas de semiconductores. Esto es posible ahora gracias al aumento de la inversión de los proveedores de ATE para respaldar sus plataformas de pruebas con soluciones de borde seguras e integradas. La solución analítica Teradyne Archimedes integra tecnologías como el análisis de datos, la inteligencia artificial y el aprendizaje automático en las soluciones de pruebas.

Su arquitectura abierta es compatible con los principales modelos de soluciones analíticas y permite un flujo seguro de datos en tiempo real con un impacto casi nulo en el tiempo de prueba que mejora la calidad, aumenta el rendimiento y reduce el tiempo de inactividad de los probadores. Como miembro de los ecosistemas Teradyne Archimedes, los modelos y aplicaciones analíticas NI GO obtienen los recursos informáticos disponibles para actuar más cerca que nunca de las actividades de prueba, lo que significa que las acciones y controles basados en datos pueden activarse durante la ejecución de la prueba. Además, estos modelos se benefician de los protocolos de seguridad nativos de los servidores ATE, lo que significa que todos los datos y la IP están suficientemente protegidos.

Como resultado, las soluciones existentes, como Re-binning o DPAT, pueden ser más impactantes en tiempo real, a la vez que abren la puerta a soluciones de próxima generación y DIY que nunca se creyeron posibles, como la detección de deriva. Este desarrollo de NI es algo más que su contribución a los recientes cambios de la industria en el ecosistema de análisis y pruebas de semiconductores. Completa toda la tubería analítica desde el probador al borde a la nube y viceversa.

Esto significa que los modelos en tiempo real basados en ATE no están aislados ni estancados. Están impulsados por un ecosistema analítico más amplio que conecta a todos los comprobadores y bancos de pruebas, internos y externos, a una única instancia de big data, lo que permite un aprendizaje más profundo para obtener perspectivas más impactantes y continuamente actualizadas. Además, los servidores GO Edge actúan como centro de gestión de modelos y aplicaciones para garantizar que los modelos en tiempo real se despliegan, actualizan, rastrean y eliminan de forma eficaz.

Al combinar el control en tiempo real con un backend analítico completo y adaptable, las soluciones NI GO + ATE están diseñadas para ser las capacidades de control de pruebas más impactantes del mercado.