Keysight Technologies, Inc.; FormFactor, Inc.; DMPI Inc. y Virginia Diodes, Inc. (VDI), que diseña y produce dispositivos, componentes y sistemas de ondas milimétricas y terahercios, han unido sus fuerzas para ofrecer una nueva solución de análisis de redes vectoriales (VNA) de banda ancha de 170 GHz /220 GHz que acorta los ciclos de diseño y verificación para aplicaciones 5G y 6G emergentes. Keysight, FormFactor, DMPI y VDI han desarrollado conjuntamente esta nueva solución VNA para proporcionar la caracterización de componentes de ondas milimétricas en la oblea bajo diversas condiciones. Ofrece un rango dinámico avanzado, alta potencia de salida y máxima estabilidad.

Como resultado, los diseñadores pueden caracterizar eficazmente los dispositivos y circuitos en la oblea, lo que permite la creación de kits de diseño de procesos (PDK) de gran precisión utilizados para diseñar modelos de circuitos integrados que acortan el ciclo de diseño y verificación. Además, permite el rápido despliegue de dispositivos para los emergentes circuitos integrados monolíticos de microondas (MMIC) 5G y 6G, un tipo de dispositivo de circuito integrado (IC) que opera en frecuencias de microondas. La solución conjunta, el nuevo analizador de redes de banda ancha de 220 GHz de Keysight, permite a los clientes abordar las necesidades de las tecnologías 5G y 6G futuras que tendrán un impacto significativo en las comunicaciones a través del internet de las cosas y las conexiones inalámbricas ubicuas.

La solución totalmente integrada se compone de El VNA de banda ancha de 125 GHz N5291A de Keysight – una solución de barrido único con extensores de frecuencia compactos, que ofrece una potencia nivelada precisa. DMPI /FormFactor T-Wave GSG Sondas de doble banda – que proporcionan mediciones eléctricas a nivel de oblea en las soluciones de sondeo de obleas FormFactor de dispositivos y materiales de onda milimétrica (mmW) hasta 1,1 terahercios (THz). Los extensores de frecuencia sub-THz especialmente diseñados por VDI – que permiten una medición de alta precisión del dispositivo en la oblea bajo prueba desde 900 Hz hasta 170 GHz o 220 GHz en un solo barrido de frecuencia.