Empresa DOOSAN TESNA Inc.

Acciones

A131970

KR7131970006

Equipo y pruebas de semiconductores

Resumen de negocios

Ventas por actividad

Ventas por región

Directores

Administradores

Clase de acciones

Accionistas

Participaciones

Información de la empresa

Sector

Notaciones para DOOSAN TESNA Inc.

Revisiones del BPA

Ganancias trimestrales - Tasa de sorpresa

Sector Equipo y servicio de prueba de semiconductores

Precio de cierre Korea S.E. Otros sitios de cotización 00:00:00 30/04/2024			Varia. Cinco días.	Varia. 1 de enero.
49.050 ^KRW	-0,41 %		+7,80 %	-16,30 %

2023	Doosan Investment Co., Ltd. adquirió una participación adicional en DOOSAN TESNA Inc. (KOSDAQ:A131970) por 50.000 millones de KRW.	CI
2023	DOOSAN TESNA Inc. informa de los resultados del primer trimestre finalizado el 31 de marzo de 2023	CI

Doosan Tesna Inc, anteriormente TESNA INC, es una empresa con sede en Corea dedicada a la prestación de servicios de pruebas de semiconductores. Ofrece soluciones de prueba como la prueba de sonda de oblea, la prueba final de paquete, servicios de backend y llave en mano para circuitos integrados (CI), dispositivos de señal lógica normal, dispositivos de alta velocidad, dispositivos de señal mixta, semiconductores de aislante conductor (CIS), dispositivos de carga acoplada (CCD), CI de potencia, dispositivos de radiofrecuencia (RF), dispositivos de sistema en chip (SoC) y otros.

KRW en millones	2022	Peso	2023	Peso	Delta
Semiconductor Test Technology and Program Development Service 100,0 %	277 656	100,0 %	338 652	100,0 %	+21,97 %

KRW en millones	2022	Peso	2023	Peso	Delta
South Korea 100,0 %	277 656	100,0 %	338 652	100,0 %	+21,97 %

Directores	Puesto	Edad	Desde
Jong-Do Lee CEO	Chief Executive Officer	61	11/10/02
Jong-Hu Park DFI	Director of Finance/CFO	54	01/12/13
Yong-Jun Park CTO	Chief Tech/Sci/R&D Officer	60	18/06/07
Kee-Moon Kim BRD	Director/Board Member	63	04/01/10
Gi-Hong Kim AUD	Comptroller/Controller/Auditor	61	01/03/13

Administradores	Puesto	Edad	Desde
Seok-Ho Seo BRD	Director/Board Member	63	-
Jong-Do Lee CEO	Chief Executive Officer	61	11/10/02
Kee-Moon Kim BRD	Director/Board Member	63	04/01/10
Jae-Hyeong Jang BRD	Director/Board Member	55	-
Hyeong-Hun Kang BRD	Director/Board Member	44	-
Hyeon-Jae Kim BRD	Director/Board Member	56	-

	Vote	Quantity	Flotante	Autocontrol	Total Float
Acción A	1	17 006 566	11 602 040 ( 68,22 %)	88 705 ( 0,5216 %)	68,22 %

Nombre	Acciones	%	Valoración
DOOSAN CORPORATION 43,97 %	7 476 953	43,97 %	279 M ₩
National Pension Service of Korea 6,935 %	1 179 472	6,935 %	44 M ₩
WIRELESS POWER AMPLIFIER MODULE INC. 3,763 %	640 000	3,763 %	24 M ₩
Hanwha Asset Management Co., Ltd. 3,700 %	629 320	3,700 %	23 M ₩
Samsung Asset Management Co., Ltd. 1,712 %	291 106	1,712 %	11 M ₩
Tesna, Inc. Employee Stock Ownership Associate 0,6870 %	116 840	0,6870 %	4 M ₩
DOOSAN TESNA INC. 0,5216 %	88 705	0,5216 %	3 M ₩
Mirae Asset Global Investments Co., Ltd. 0,4007 %	68 140	0,4007 %	3 M ₩
HANWHA LIFE INSURANCE CO., LTD. 0,2463 %	41 885	0,2463 %	2 M ₩
Byung-cheol Choi 0,2305 %	39 200	0,2305 %	1 M ₩

Nombre	Acciones	%	Valoración
DOOSAN CORPORATION 100,00 %	2 320 672	100,00 %	87 M ₩

Nombre	Acciones	%	Valoración
DOOSAN TESNA INC. 0.52%	88 705	0.52%	3 307 700 $

DOOSAN TESNA, Inc.

72 Sandan-ro 16 beon-gil

17746, Pyeongtaek-si

http://www.doosan-tesna.com

Calificación trading

Calificación Inversor

ESG Refinitiv

Más Ratings

Revisiones de las previsiones

La agenda de la empresa

Tecnología

Equipo de tecnología

Semiconductores y equipo de semiconductores

Equipo y pruebas de semiconductores

Equipo y servicio de prueba de semiconductores

	Varia. 1 de ene.	Capi.
DOOSAN TESNA INC.	-16,30 %	591 M
KLA CORPORATION	+17,33 %	91,83 mil M
LASERTEC CORPORATION	+9,42 %	23,85 mil M
TERADYNE INC.	+8,17 %	17,96 mil M
TONGFU MICROELECTRONICS CO.,LTD	-9,26 %	4389,65 M
TIANSHUI HUATIAN TECHNOLOGY CO., LTD.	-3,87 %	3625,56 M
KING YUAN ELECTRONICS CO., LTD.	+12,84 %	3576,8 M
HANGZHOU CHANGCHUAN TECHNOLOGY CO.,LTD	-22,74 %	2541,32 M
ISC CO., LTD.	-7,72 %	1094,64 M
ARDENTEC CORPORATION	-0,95 %	1072,24 M

Equipo y servicio de prueba de semiconductores