La División de Pruebas de Semiconductores Avanzados de MPI Corporation, líder de la industria y de la innovación en soluciones de pruebas de semiconductores, inició la integración del sistema automatizado de pruebas de sondas para obleas TS3500-SE con WaferWallet MAX, una solución de manipulación de casetes polivalentes y de autodesplazamiento FOUP de 200 mm y 300 mm, en un proceso líder de pruebas WLR. El WaferWallet®MAX proporciona una solución de automatización al aumentar el tiempo total de las pruebas en más de un 400% sin comprometer la precisión y la capacidad de medición. Aumenta aún más la eficacia y la productividad de las pruebas al reducir el tiempo de remojo de la temperatura (parte del tiempo total de las pruebas), al tiempo que permite el intercambio de obleas en caliente/en frío – que es una capacidad única de cargar y descargar obleas mientras el mandril permanece a cualquier temperatura de prueba.

MPI colabora con éxito con imec para la integración de su solución WaferWallet®MAX en el departamento de Robustez y Pruebas Avanzadas de Fiabilidad (AR²T) de imec, aprovechando sus actividades de cualificación de WLR de 200 y 300 mm en apoyo de sus programas de I+D de Lógica, Insite y Memoria.