Park Systems Corp. ha anunciado el lanzamiento de su última innovación en microscopía de fuerza atómica (AFM), el Park FX200, diseñado para muestras de 200 mm. El FX200 ha sido desarrollado para satisfacer las necesidades tanto de la investigación como de las aplicaciones industriales, ofreciendo avances significativos en la tecnología de AFM para muestras grandes.

El FX200 presenta una estructura mecánica avanzada que garantiza un ruido de fondo significativamente menor y una deriva térmica mínima, proporcionando una mayor estabilidad durante las mediciones. Esta mejora favorece una mayor precisión y un rendimiento fiable durante periodos de funcionamiento prolongados. Con un rendimiento del servo Z más rápido, la FX200 permite un barrido rápido y preciso a través de grandes áreas de muestra.

Su vista de muestra mejorada de alta potencia con autoenfoque permite a los investigadores lograr una claridad y un detalle excepcionales en las imágenes de AFM, independientemente del tipo o condición de la muestra. El FX200 incluye varias funciones automatizadas para agilizar las operaciones y maximizar la eficacia. El reconocimiento y el intercambio automáticos de la sonda eliminan los ajustes manuales, mientras que un tamaño reducido del punto láser y las alineaciones automáticas mejoran la precisión y la coherencia de las mediciones.

La óptica macro proporciona una visión completa de la muestra de 200 mm, lo que permite un análisis exhaustivo sin necesidad de coser varias imágenes. Esta capacidad se ve reforzada por las mediciones secuenciales automáticas en coordenadas predefinidas, lo que facilita la recopilación eficaz de datos en grandes áreas de muestra. El Park FX200 se ha diseñado pensando en la comodidad del usuario, e incluye ajustes automáticos de los parámetros de escaneo del AFM.

Esta interfaz intuitiva permite a los investigadores centrarse en sus objetivos científicos en lugar de en la configuración del instrumento, mejorando la productividad y la eficiencia del flujo de trabajo. Además, su capacidad de rendimiento superior lo hace ideal para una amplia gama de aplicaciones industriales y de investigación, incluyendo la investigación de la morfología de superficies, la caracterización de propiedades mecánicas y la exploración de fenómenos a nanoescala, proporcionando resultados fiables para los esfuerzos científicos contemporáneos. El Park FX200, que representa un avance significativo en la tecnología de AFM, ofrece una precisión mejorada, una eficacia automatizada y una visualización completa de las muestras.