Advantest Corporation presentará sus últimas soluciones de pruebas para circuitos integrados avanzados en SEMICON Corea del 1 al 3 de febrero en COEX en Seúl, Corea del Sur. La empresa destacará sus contribuciones a la tecnología de pruebas de vanguardia, incluyendo memoria avanzada, 5G, IA, computación de alto rendimiento (HPC) y nanotecnología, así como sus iniciativas ESG.

Exposición: La exposición de productos de la empresa en el stand #C510 mostrará cómo la empresa está añadiendo valor para el cliente a la cadena de valor de semiconductores en evolución a través de su amplia gama de soluciones y servicios de pruebas. La muestra digital de este año incluirá: Nuevo inteXcell, primera infraestructura de pruebas totalmente integrada y unificada que combina el comprobador T5835 en celdas de pruebas de huella mínima, ideales para pruebas finales de circuitos integrados de memoria avanzados; Nuevo microscopio electrónico de barrido para revisión de defectos (DR-SEM) E5620 para la revisión y clasificación de precisión de defectos de fotomáscaras ultrapequeñas; Nueva tarjeta universal VI y de alimentación XPS128+HV para el sistema de pruebas V93000 EXA Scale SoC que reduce el coste de las pruebas para los circuitos integrados de gestión de potencia y otros dispositivos de alto voltaje; Nueva interfaz DUT Scale Duo para los sistemas de pruebas V93000 EXA Scale SoC que amplía el espacio de la placa DUT para pruebas de gran volumen y es compatible con las placas DUT existentes; Nuevo módulo digitalizador multicanal LCD HP que responde a las demandas de medición de alta precisión y alto voltaje para las pruebas de los nuevos circuitos integrados de controladores de pantalla cuando se combina con el sistema de pruebas de SoC T6391; Sistemas de pruebas de SoC T2000 con la mejora de la usabilidad del kit de desarrollo rápido (RDK), que acelera el desarrollo de programas de pruebas para todos los SoC, incluidas las aplicaciones complejas de automoción y analógicas de potencia; Sistemas de pruebas de unidades de estado sólido (SSD) MPT3000 que responden a los requisitos de las pruebas asociadas a las SSD PCI Express de quinta generación (PCIe Gen 5), Compute Express Linko (CXLo) y NVMe.