Faraday Technology Corporation ha anunciado que ha colaborado con Infineon para desarrollar una plataforma SONOS eFlash en el proceso 40uLP de UMC. Esta plataforma incluye un subsistema IP eFlash de nuevo desarrollo y una solución completa de pruebas eFlash con funciones de fácil integración y rápido acceso a los datos. Esta solución total facilita a los clientes la aceleración del desarrollo de productos y la utilización de la tecnología de memoria flash con mayor facilidad; mientras tanto, también simplifica las pruebas de SONOS eFlash con una función de autocomprobación integrada (BIST) para proporcionar a los clientes sólidas ventajas de calidad.

Para satisfacer la demanda de eFlash de 40 nm de bajo consumo y segura impulsada por las aplicaciones de IA, red inteligente, IoT y MCU, Faraday e Infineon desarrollaron conjuntamente esta plataforma SONOS eFlash. Esta plataforma contiene principalmente un bloque de memoria flash, un controlador y el nuevo subsistema IP. Este subsistema incluye una interfaz de bus esencial, circuitos de control de reloj integrados y funciones adicionales, como la inicialización automática de la eFlash, un procedimiento de borrado/escritura simplificado para descargar la sobrecarga de la CPU, protección de lectura/escritura y un búfer de escritura pseudoaleatoria, para una integración y utilización sin fisuras de la IP SONOS eFlash.

Además, este subsistema con BIST permite probar los chips en equipos de pruebas generales para garantizar la calidad y fiabilidad de la memoria flash, así como para reducir el tiempo de las pruebas.