Advantest Corporation presentará sus últimas soluciones de prueba en SEMICON China 2023 del 29 de junio al 1 de julio en el Nuevo Centro Internacional de Exposiciones de Shanghái. Bajo el lema "Más allá del horizonte tecnológico", Advantest destacará sus contribuciones a la tecnología de pruebas, incluyendo memoria avanzada, 5G, IA, computación de alto rendimiento (HPC) y nanotecnología, así como sus iniciativas ESG. La exposición de productos de Advantest en el stand #E3423 del pabellón E3 mostrará cómo la empresa está añadiendo valor para el cliente a la cadena de valor de semiconductores en evolución a través de su amplia gama de soluciones y servicios de pruebas.

La exposición de este año incluirá Estación de pruebas EXA Scale EX para la plataforma V93000, que multiplica por cuatro la capacidad de pruebas en los laboratorios de ingeniería de circuitos integrados sin aumentar el espacio ocupado, lo que favorece una transición fluida del contenido de las pruebas del laboratorio a la fábrica y reduce los costes de las instalaciones. La interfaz DUT Scale Duo para los sistemas de pruebas SoC V93000 EXA Scale amplía el espacio de la tarjeta DUT para pruebas de gran volumen y es compatible con las tarjetas DUT existentes. Tarjetas de canal Link Scale para la plataforma V93000 que mejoran la cobertura de las pruebas y aumentan el rendimiento en pruebas de alta calidad de SoC complejos, añadiendo pruebas funcionales basadas en software y capacidades de prueba HSIO SCAN.

Sistemas de prueba de SoC T2000 con kit de desarrollo rápido (RDK) para todos los SoC, incluidos los de automoción y analógicos de potencia, y soluciones de prueba IP Engine 4 para el procesamiento de imágenes más rápido con el fin de reducir el tiempo y los costes de las pruebas de SoC. Módulo digitalizador multicanal LCD HP que responde a las demandas de medición de alta precisión y alto voltaje para las pruebas de CI de controladores de pantalla emergentes cuando se combina con el sistema de pruebas T6391. inteXcell, la primera infraestructura de pruebas totalmente integrada y unificada que combina el comprobador T5835 en celdas de pruebas de tamaño mínimo, ideales para las pruebas finales de CI de memoria avanzados.

Sistema de pruebas de memoria T5830ES, que es altamente flexible y ofrece todas las capacidades necesarias para realizar pruebas de obleas y pruebas finales de memorias flash sensibles al precio.