Synopsys, Inc. ha anunciado una innovadora tecnología de tejido de flujo que acorta tanto el acceso a los datos del silicio como el tiempo de prueba hasta en un 80%, al tiempo que minimiza el exceso de energía. Generada por la herramienta de diseño para pruebas TestMAX® DFT de Synopsys y parte del flujo de gestión del ciclo de vida del silicio cohesivo de Synopsys, la nueva tela de streaming es una red única en el chip que transporta rápidamente los datos del silicio hacia y desde múltiples bloques de diseño y sistemas multi-die, reduciendo significativamente el tiempo para probar y analizar eficazmente la salud general del chip en busca de anomalías y fallos. Disminución de los costes de las pruebas gracias a la reducción del tiempo de transporte de datos: Garantizar la salud del silicio y el tiempo de funcionamiento requiere un acceso y un análisis constantes de los datos del chip o del sistema multidie sobre parámetros como el proceso, el voltaje y la temperatura.

En el caso de los diseños de nodos grandes y avanzados, los equipos de ingeniería suelen utilizar un enfoque de "divide y vencerás", incorporando el acceso a los datos en cada bloque de diseño y conectando después los bloques a los pines a nivel del chip. Las redes tradicionales son bastante rígidas y requieren una gran cantidad de planificación. Por el contrario, la nueva tecnología de tejido de flujo adopta un enfoque "plug-and-play", que exige un esfuerzo de planificación mínimo, ya que puede programarse para adaptarse a diversas velocidades de bloque y tamaños de interfaz de datos.

Para minimizar el enrutamiento, el tejido admite una ramificación simplificada para los bloques con interfaces de datos pequeñas. Estas capacidades garantizan que las metodologías de acceso a los datos a nivel de bloque sean fáciles de diseñar físicamente, requieran un esfuerzo mínimo y proporcionen el menor tiempo de acceso necesario, reduciendo los costes de las pruebas. Además, las conexiones de bifurcación simplificadas de la tecnología minimizan el impacto físico en los diseños, lo que permite a los equipos de ingeniería desplegar rápidamente el tejido de transmisión utilizando la familia de diseño digital de Synopsys.

Mejora de la fiabilidad de los datos mediante una estimación precisa de la potencia: Los datos, incluidos los programas de prueba, aplicados a los chips o a los sistemas multidie en el campo no deben hacer que el silicio utilice demasiada energía, lo que podría dañar la pieza o invalidar los resultados. La nueva tecnología de estimación de potencia incorporada en la solución de generación de patrones TestMAX ATPG de Synopsys determina con mayor precisión la potencia consumida en el momento de la aplicación de los datos, en comparación con los métodos anteriores, asignando los resultados de la tecnología de análisis de potencia RTL-to-signoff de Synopsys PrimePower. Como resultado, se mitiga la caída de potencia, evitando resultados de datos de silicio incorrectos y daños.