Las máquinas ofrecerían un nuevo nivel de rendimiento en la difícil tarea de detectar partículas extrañas extremadamente pequeñas que arruinan los chips en producción, dijo Ali Altun, director ejecutivo y fundador de Unisers, iniciada en 2019.

Una partícula diminuta que se posa en una oblea de silicio, con la que se fabrican los chips, puede hacer que un chip funcione mal, aunque es posible que el problema no se descubra hasta meses después, al final de un proceso de producción de miles de pasos.

Por ello, detectar las partículas poco después de que contaminen las obleas ahorra dinero.

A medida que los chips rinden más y sus circuitos se hacen más diminutos, las partículas de dimensiones cada vez más pequeñas se convierten en un problema.

"Somos la única empresa que puede detectar estas partículas extremadamente pequeñas, de menos de 10 nanómetros, en las obleas", declaró Altun a Reuters.

La tecnología de las nuevas máquinas es el primer producto de Unisers. Altun explicó que el proceso aplica un recubrimiento especial a las obleas para que las partículas aparezcan mejor cuando la luz rebota en ellas.

Aunque Intel Capital ha invertido para ayudar a llevar la tecnología al mercado, su directora general, Jennifer Ard, dijo que la industria de semiconductores necesitaba trabajar más para evitar la contaminación en sus materiales y fábricas, llamadas fabs.

"Algunas de las formas en que estamos midiendo las cosas dentro de la fab, está llegando al punto en que no podemos utilizar los métodos ópticos típicos y otros", dijo.

La tecnología de los Unisers también está destinada a detectar impurezas en los materiales, otra fuente de defectos.